Ir192γ射线照相法测量管内垢厚
刘德荣
摘要(Abstract)：
<正> 对管内垢厚的测量虽然已有用超声波、X 射线和钴-60、绝-137γ射线等各种方法,但是这些方法都有种种实际问题。譬如在采用超声波时要求管子表面光洁,因此需要打磨;X 射线装置本体大,在管束中安置困难;钴-60、铯-137r 射线穿透力强,软片反差小等等。对于管径为90～150mm、壁厚为5～10mm 管子的垢厚测量,从穿透能力方面考虑,用Ir~(192)γ射线源最为合适,检查装置重量轻,便于现场使用。但缺点是Ir~(192)半衰
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作者(Author): 刘德荣
DOI: 10.19666/j.rlfd.1974.02.009