李自力

摘要(Abstract)：

<正> 1.引言近年来,X 射线能谱分析仪配合扫描电子显微镜,成了观察微小尺寸物质的形貌,分析它的成分的有效仪器。可是,由于诸元素各线系特征X 射线的波长(亦即X 射线光量子的能量),有的十分接近;而与它相对应的能谱峰,由于探测器系统的统计误差,其谱线还将宽化;结果,常常会出现X 射线能谱峰的重迭现象。这是使用能谱仪作元素定性和定量分析时,经常会碰到的困

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作者(Author): 李自力

DOI: 10.19666/j.rlfd.1979.05.006

参考文献(References)：

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